Mikroskopie
Kontaktwinkelmessgerät
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PC-gesteuertes Multi-Dosiersystem
mit bis zu 4 verschiedenen Standard Testflüssigkeiten |
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PC-gesteuertes Einfach-Dosiersystem
für das Auftragen und die Messung von Sonderflüssigkeiten |
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Hochgeschwindigkeitskamera
(Aufnahmegeschwindigkeit bis 360 Bilder/sec) und Möglichkeit der Einzelbildauswertung
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Peltier-Temperierkammer (Temperaturbereich
von -30 °C bis +160 °C) Schutzgasanschluss |
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Neigetisch |
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max. Probenabmessungen: 300
x 8 x 150 mm |
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Messbereich Oberflächenspannung:
1x10-2 bis 100 mN/m |
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0,01 mN/m Messauflösung |
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Messbereich Kontaktwinkel:
0 bis 180 ° |
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+/- 0,1 ° Messgenauigkeit |
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Frau Dr. Heike Lindauer
Telefon: 03672 / 379 556
Telefax: 03672 / 379 379
Email: lindauer(a)titk.d
Dienstleistungen
Ellipsometer
| Gerät |
Messmöglichkeiten |
M-44™ Ellipsometer |
Schichtdicken von optischen Schichten im
Bereich von 1 nm - 10 µm Grenzflächenanalysen Oberflächenrauhigkeiten
Dispersionsverhalten im Bereich von 600 - 1200 nm Absorptionsverhalten
im Bereich von 600 - 1200 nm
Bestimmen der optischen Konstanten Brechzahl n und Absorptionskoeffizienten
k |
spektroskopisches Meßprinzip
Herr Dipl.-Phys.
Ralf-Ingo Stohn
Telefon: 03672 / 379 564
Telefax: 03672 / 379 379
Email: i.stohn(a)titk.de |
J.A. Woollam Co. Inc. Spectroscopic
Ellipsometer M-44 |
FT-IR-Spektroskop
Technische Daten
Stand der Technik
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EQUINOX 55, Bruker
1995, neue Software 2005 - Version OPUS 5.5 |
Besonderheiten
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Messeinheiten für Reflexion, Transmission
und Mikro-ATR (HATR MIRacle, Single-Reflexions-HTR-Einheit) Messung:
4000 bis 400 cm-1 (2,5 bis 25 µm) in Reflexion und Transmission
Software zur automatischen Kunststofferkennung
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| Dienstleistungen |
Bearbeitung von Kundenreklamationen
- Schadensanalytik
- Materialidentifizierung (z.B. Untersuchung heterogener Kunststoffmaterialien,
wie Composite und Schichtverbunde)
- Untersuchung von Fehlstellen, Strukturdefekten, Verunreinigungen
u.a.
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Digitale Farbkamera für Bildanalyse
Technische Daten/
Stand der Technik
Auflösung: 2080 x
1544 Pixel (1040 x 772 Pixel im Schwarzweißmodus)
Dynamikbereich: 12 bits x 3 (RGB) 12 bits (b /w mode)
Belichtungszeiten: 100 µs to 160 sec.
Bildfrequenz *: 29 fps @ Suchmodus, 11 fps @ Fokusmodus,
5 fps @ hoch auflösender Modus
* Gemäß Kameratest mit den Einstellungen: 2 x Binning bei einer 12-Bit
Auflösung, mit automatischer Echtzeit-Kontrastkontrolle, auf einer handelsüblichen
Dual CPU PC-Konfiguration. Die eingestellte Kameraauflösung und die Geschwindigkeit
des PCs beeinflussen die Bildwiederholrate unmittelbar.
Besonderheiten
Die mit FireWire™ (IEEE 1394)-Technologie arbeitende Farbkamera zeichnet
sich durch eine hohe Auflösung, Peltier-Kühlung und eine schnelle Bildfolge
aus.
Die ColorView II liefert detail- und kontrastreiche Farbbilder höchster
Qualität bei einem gleichzeitigen außerordentlich geringen Rauschen. Vollständig
in die Bildanalyse-Software analySIS® integriert, wird sie vorwiegend
für materialwissenschaftliche Applikationen eingesetzt.
Frau Dipl.-Phys.
Karin Schultheis
Telefon: 03672 / 379 558
Telefax: 03672 / 379 379
Email: schultheis(a)titk.de
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Druckversion
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Technische
Ausstattung 
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