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Die IR-Mikroskopie eignet sich zur Untersuchung von Proben im Mikrometermaßstab
(Messfleckgröße 21-50 µm)
- FuE-Arbeiten
- Qualitätskontrolle
- Schadensanalytik
- Kriminalistik
- Materialidentifizierung von Fremdpartikeln in Werkstoff und Bauteilen
(Kunststoffe, Folien)
- Untersuchung von Schlieren, Fehlstellen, Strukturdefekte in Kunststoffen
und Folien in Mikrobereichen

IR-Spektren
Weiterführende Links und Informationen:
FT-IR-Spektroskopie
Oberflächencharakterisierung
und Schadensanalytik mittels Rasterelektronenmikroskopie und
IR-Spektroskopie 
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Frau Dipl.-Ing. Regina Dietze
Telefon: 03672 / 379 560
Telefax: 03672 / 379 379
Email: dietze(a)titk.de
Für Forschung und Entwicklung
Herr Prof. Dr.
Klaus Heinemann
Leiter der Abteilung Funktionspolymersysteme und Physikalische Forschung
Telefon: 03672 / 379 230
Telefax: 03672 / 379 379
Email: heinemann(a)titk.de
Thüringisches Institut
für Textil- und
Kunststoff-Forschung e.V.
Breitscheidstraße 97
D-07407 Rudolstadt
Email: info(a)titk.de
Telefon: 03672 / 379 0
Telefax: 03672 / 379 379
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