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Geräteausstattung Schicht- und Oberflächencharakterisierung

Mikroskopie

Kontaktwinkelmessgerät

- PC-gesteuertes Multi-Dosiersystem mit bis zu 4 verschiedenen Standard Testflüssigkeiten
- PC-gesteuertes Einfach-Dosiersystem für das Auftragen und die Messung von Sonderflüssigkeiten
- Hochgeschwindigkeitskamera (Aufnahmegeschwindigkeit bis 360 Bilder/sec) und Möglichkeit der Einzelbildauswertung
- Peltier-Temperierkammer (Temperaturbereich von -30 °C bis +160 °C) Schutzgasanschluss
- Neigetisch
   
- max. Probenabmessungen: 300 x 8 x 150 mm
- Messbereich Oberflächenspannung: 1x10-2 bis 100 mN/m
- 0,01 mN/m Messauflösung
- Messbereich Kontaktwinkel: 0 bis 180 °
- +/- 0,1 ° Messgenauigkeit
   
Kontakt
Frau Dr. Heike Lindauer
Telefon: 03672 / 379 556
Telefax: 03672 / 379 379
Email: lindauer(a)titk.d

pfeil Dienstleistungen

Ellipsometer


Gerät Messmöglichkeiten
M-44™ Ellipsometer Schichtdicken von optischen Schichten im Bereich von 1 nm - 10 µm Grenzflächenanalysen Oberflächenrauhigkeiten Dispersionsverhalten im Bereich von 600 - 1200 nm Absorptionsverhalten im Bereich von 600 - 1200 nm

Bestimmen der optischen Konstanten Brechzahl n und Absorptionskoeffizienten k

 


spektroskopisches Meßprinzip

Kontakt
Herr Dipl.-Phys.
Ralf-Ingo Stohn

Telefon: 03672 / 379 564
Telefax: 03672 / 379 379
Email: i.stohn(a)titk.de
Bild: ellipsometer
J.A. Woollam Co. Inc. Spectroscopic Ellipsometer M-44


FT-IR-Spektroskopie

Technische Daten

Stand der Technik

FT-IR-Spektrometer EQUINOX 55, Bruker

Software OPUS 5.5
Besonderheiten

Messeinheiten für Reflexion, Transmission und Mikro-ATR (HATR MIRacle, Single-Reflexions-HTR-Einheit) Messung: 4000 bis 400 cm-1 (2,5 bis 25 µm) in Reflexion und Transmission

IR-Mikroskopie

Anwendung

FuE-Arbeiten, Materialuntersuchung von Kunststoffen und Folien zur Qualitätssicherung und zur Bearbeitung von Kundenreklamationen

  • Schadensanalytik
  • Materialidentifizierung (z.B. Untersuchung heterogener Kunststoff- materialien, wie Composite und Schichtverbunde)
  • Identifikation von Molekülstrukturen und funktionellen Gruppen in organischen Materialien

Oberflächencharakterisierung und Schadensanalytik mittels
Rasterelektronenmikroskopie und IR-Spektroskopie

Kontakt
Frau Dipl.-Ing. Regina Dietze
Telefon: 03672 / 379 560
Telefax: 03672 / 379 379
Email: dietze(a)titk.de

Digitale Farbkamera für Bildanalyse

Technische Daten/ Stand der Technik

Auflösung: 2080 x 1544 Pixel (1040 x 772 Pixel im Schwarzweißmodus)
Dynamikbereich: 12 bits x 3 (RGB) 12 bits (b /w mode)
Belichtungszeiten: 100 µs to 160 sec.
Bildfrequenz *: 29 fps @ Suchmodus, 11 fps @ Fokusmodus,
5 fps @ hoch auflösender Modus

* Gemäß Kameratest mit den Einstellungen: 2 x Binning bei einer 12-Bit Auflösung, mit automatischer Echtzeit-Kontrastkontrolle, auf einer handelsüblichen Dual CPU PC-Konfiguration. Die eingestellte Kameraauflösung und die Geschwindigkeit des PCs beeinflussen die Bildwiederholrate unmittelbar.

Besonderheiten
Die mit FireWire™ (IEEE 1394)-Technologie arbeitende Farbkamera zeichnet sich durch eine hohe Auflösung, Peltier-Kühlung und eine schnelle Bildfolge aus.

Die ColorView II liefert detail- und kontrastreiche Farbbilder höchster Qualität bei einem gleichzeitigen außerordentlich geringen Rauschen. Vollständig in die Bildanalyse-Software analySIS® integriert, wird sie vorwiegend für materialwissenschaftliche Applikationen eingesetzt.


Kontakt
Frau Dipl.-Phys.
Karin Schultheis
Telefon: 03672 / 379 558
Telefax: 03672 / 379 379
Email: schultheis(a)titk.de
Bild: kamera für mikroskop
http://www.titk.de/forschung/polymer/ausstattung_schicht_oberflaeche.htm
 
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Letzte Aktualisierung: 06.07.2009