Rasterelektronenmikroskopie

REM:   „AURIGA TM“ - Crossbeam-Basis-System, Zeiss

Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop  mit Schottky-Feldemissionskathode




Die hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie ist für vielfältige Anwendungen im Bereich der Werkstoffcharakterisierung geeignet und wird aufgrund der hohen Tiefenschärfe bevorzugt zur Abbildung uneben strukturierter Oberflächen eingesetzt. Zusätzlich dient sie der Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen für die Materialforschung und der Werkstoffentwicklung sowie zur Qualitätssicherung und Schadensanalytik.

 

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