Rasterkraftmikroskop (AFM bzw. SFM)

Zur Darstellung von dünnen Schichten u.a. zur Untersuchung von Selbstorganisationseffekten bei der Beschichtung mit Funktionspolymeren für Arbeiten zur Polymersolarzelle und zu Transistoren eignet sich besonders ein Rasterkraftmikroskop (engl. atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM)

 

  • AFM
    • Laterale Auflösung 10 nm
    • Z-Auflösung: 0,5nm
    • Scanbereich: max. 27µm x 27µm
    • Probengröße: max. 1cm x 1cm
    • Darstellung Selbstorganisation im µm-Bereich
    • Messung von µ-Rauheiten

 


AFM-Aufnahmen (Folie beschichte mit Spezialpolymer)