Materialcharakterisierung

Innerhalb der Arbeitsgruppe „Polytronic“ stehen Methoden und Ausstattung zur Materialcharakterisierung mit folgenden Schwerpunkten zur Verfügung:

 

•  Optische Spektroskopie und Farbmetrik

     o    Farbmessung
     o    Glanzmessung
     o    UV-Vis (inkl. zeitabhängiger Messungen A(T)/Zeit bei λconst.)
     o    Fluoreszenz
     o    FT-IR (MIR) mit IR-Mikroskop zur Partikel-/Defektanalyse

•   Elektrische Parameter und Kenngrößen

     o    IPCE
     o    Cyclovoltammetrie, Chronoamperometrie
     o    Transistormessungen
     o    Kennlinien von Solarzellen (Sonnensimulator)
     o    Impedanzmessungen (ε, tan δ, ….)
     o    Gleichstromleitfähigkeit und Oberflächenwiderstand (4-Punkt-Messung)

•   Oberflächen- und Schichtcharakterisierung

     o    Lichtmikroskopie (Fluoreszenz, mobil Digital, Videofunktion)
     o    Konfokale Mikroskopie (Oberflächenprofile und Rauheiten)
     o    AFM
     o    Elektronenmikroskopie – REM, EDX
     o    Benetzungsverhalten und Kontaktwinkel
     o    Schichtdickenmessung über Ellipsometrie



Darüber hinaus bieten wir ein umfangreiches Angebot an Werkstoffprüfungen (s.a. Dienstleistungsangebot OMPG).